材料概述
表面更均匀，但涂层缺陷与高反光是重点
PU 人造革 AI 视觉检测设备对涂饰 PU 革表面成像，由算法识别针孔、流平不良、橘皮、龟裂、离层、色差、划伤等缺陷，输出 OK/NG 结果并联动产线，适用于卷料与裁片形态。
PU 人造革是在基布上涂覆聚氨酯形成的高分子表面，整体比真皮均匀，但涂层工艺本身会引入特有的缺陷：针孔、流平不良、橘皮、龟裂、离层、透底。这些缺陷和"材质天然不均"无关，而是工艺稳定性问题。
PU 革表面通常有光泽，高反光会吃掉划痕与凹凸的细节，是检测的主要干扰。打光上常用漫射光或条纹光抑制反光，再用低角度光把橘皮、针孔、龟裂这类微观起伏显形。
压纹 PU 革还要额外关注压纹一致性——纹路深浅不均、压花缺失、对花错位，这类缺陷需要把正常压纹纹理建为基准再比对偏移。
适用类型
光面 PU 革
高反光表面，重点在抑制反光、查划伤与针孔
压纹 PU 革
带花纹，重点在压纹一致性与对花错位
湿法 / 干法 PU
工艺不同，涂层厚度与缺陷形态有别
PU 革卷料
连续走料，适合线扫整幅检测
PU 革裁片
已裁切，按件检测并定位缺陷
常见缺陷
| 缺陷类型 | 典型表现 | 检测关注点 |
|---|---|---|
| 针孔 | 涂层微小穿透孔 | 透光或低角度光显形 |
| 流平不良 | 表面波纹、积料 | 关注光泽均匀性 |
| 橘皮 | 表面橘皮状起伏 | 低角度光突出微观形貌 |
| 龟裂 / 开裂 | 涂层开裂 | 弯折与边角重点查 |
| 离层 / 脱层 | 涂层与基布分离 | 关注边缘与气泡 |
| 色差 / 透底 | 同批色泽不一、底色透出 | 稳定光源与色基准 |
| 划伤 | 线性擦伤 | 需抑制表面反光 |
| 压花缺失 / 错位 | 花纹不清或对花偏移 | 与基准压纹比对 |
检测流程
从上料到判定的完整链路
- 01PU 革上料 / 卷料展开或裁片送入
- 02展平与张力控制
- 03触发成像（抑制反光打光）
- 04定位基准与区域切分
- 05表面缺陷分割
- 06压纹一致性比对（压纹革）
- 07缺陷分类与分级
- 08合成 OK / NG
- 09标记 / 剔除与图像存档
AI 检测原理
AI 视觉检测原理
PU 革检测的关键是"先压反光、再找形貌"。算法在稳定低反光成像下，用纹理与形貌特征区分针孔、橘皮、龟裂等微观缺陷，压纹革则先建立基准花纹再比对偏移。成像条件（反光抑制）往往比算法更决定上限。
打光上，漫射光或同轴 / 条纹光用于压住 PU 表面的镜面反光；低角度光用于暴露橘皮、针孔、龟裂等微观起伏。光泽越强，反光抑制越关键。
判定上建议把工艺缺陷（针孔、离层）与外观缺陷（色差、划伤）分开设灵敏度，兼顾漏检与过杀。具体阈值需以 OK / NG 样品实测确认。
适用行业
适用设备
常见问题
PU 革表面反光强，划痕能看清吗？
压纹 PU 革的对花错位能查吗？
能检测涂层下面的离层吗？
卷料和裁片都能检吗？
检测精度是多少？
需要哪些样品才能做方案？
能接入现有产线吗？
提交样品测试
寄来光面、压纹等不同种类的 PU 革 OK 与 NG 样品，我们会做反光抑制与缺陷实测，给出打光方案与判定配置建议。
提交成功
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